β放射性電離規(guī)靈敏度衰減特性分析

2010-05-11 陳聯(lián) 蘭州物理研究所

  介紹了一種采用3H 作為放射源的β 放射性電離規(guī)靈敏度衰減特性分析工作,通過對放射性電離規(guī)靈敏度衰減特性的理論分析和實(shí)際測量,得到放射性電離規(guī)長時間貯存和使用后會導(dǎo)致測量靈敏度顯著下降、線性壓力測量范圍降低的結(jié)論。因此,放射性電離規(guī)經(jīng)過一段時間使用或貯存后必須進(jìn)行校準(zhǔn)。

  β 放射性電離規(guī)(以下簡稱β 規(guī))是采用β 放射線產(chǎn)生的電子對被測環(huán)境內(nèi)氣體分子進(jìn)行電離,通過測量離子流實(shí)現(xiàn)壓力測量的真空規(guī)。該規(guī)沒有熱燈絲和任何加熱源, 所采用的放射源具有能量低、易屏蔽等特點(diǎn),適用于危險環(huán)境的氣體壓力檢測,在火箭共底氫、氧環(huán)境的壓力測量中得到應(yīng)用。在20 多年火箭的歷次發(fā)射中,為火箭共底工作狀態(tài)提供可靠的壓力數(shù)據(jù),確保安全發(fā)射。

  放射源半衰期直接決定了放射性電離規(guī)的使用壽命。隨著放射性電離規(guī)使用和存放時間的增長,放射源產(chǎn)生的電子密度越來越小,從而導(dǎo)致電離規(guī)靈敏度逐漸下降。當(dāng)規(guī)的靈敏度下降到小于設(shè)計數(shù)值時,規(guī)的壽命結(jié)束而停止使用。此外,在放射性電離規(guī)使用過程中,因規(guī)電極及其引線氧化,改變了內(nèi)部的電場分部,也會導(dǎo)致放射性電離規(guī)靈敏度下降。本文通過理論分析和試驗測量對β 放射性電離規(guī)的靈敏度衰減特性進(jìn)行了分析,提供規(guī)正確使用和存放的技術(shù)途徑。

1、放射性電離規(guī)結(jié)構(gòu)及工作原理

  β 規(guī)結(jié)構(gòu)見圖1,包括:陽極、放射源、離子收集極和殼體等。陽極為筒形結(jié)構(gòu),陽極加直流電壓。放射源選用3H 源,被焊接在陽極筒內(nèi)壁上,和陽極同電位。陽極筒中心為離子收集極,處于“虛地”電位。3H 作為放射源,發(fā)射的β 線為電子線,最大電子能量為18 keV,半衰期為12.5 a。β 線的穿透性很低,屬于V 級放射源,產(chǎn)生放射性同位素強(qiáng)度較弱,對人體為安全劑量,因而得到廣泛的應(yīng)用。

  β 規(guī)工作時,3H 放射源產(chǎn)生的β 粒子對被測環(huán)境內(nèi)氣體分子進(jìn)行電離,在陽極上施加的直流電壓使得收集極和陽極間形成一個電場空間,離子在電場作用下被收集極收集而形成一定強(qiáng)度的離子流電信號。信號被測量電路的放大器放大,并經(jīng)過一定的數(shù)據(jù)處理后轉(zhuǎn)變?yōu)殡妷盒盘枺罱K送到顯示單元。在一定壓力范圍內(nèi),電壓變化的信號值和壓力變化成線性,從而實(shí)現(xiàn)壓力測量。

β 規(guī)結(jié)構(gòu)示意圖

1.陽極 2.放射源 3.離子收集極 4.陽極電源 5.顯示單元 6.離子流測量放大器

圖1 β 規(guī)結(jié)構(gòu)示意圖

2、放射性電離規(guī)靈敏度衰減理論分析

4、結(jié)論

  試驗結(jié)果表明,經(jīng)過6 年的貯存和使用,被測β 規(guī)的靈敏度系數(shù)衰減值在29%~48%范圍。其中,在(10~500) Pa 壓力測量范圍內(nèi),衰減系數(shù)為30%,在0.5 Pa 時衰減系數(shù)達(dá)到48%。利用公式(7)理論計算獲得,經(jīng)過6 年貯存和使用,β規(guī)的靈敏度理論衰減系數(shù)應(yīng)為28%,和實(shí)際測量值比較接近。因此,可以認(rèn)為,β 規(guī)靈敏度衰減主要來自是放射源強(qiáng)度衰減,其規(guī)律符合衰變定律。但總體來說,在壓力測量范圍內(nèi),靈敏度衰減系數(shù)要比理論計算值略大,這說明引起β 規(guī)靈敏度下降的因素除了放射源外,還與規(guī)的結(jié)構(gòu)有關(guān)。隨著β 規(guī)貯存和使用時間的增長,β 規(guī)靈敏度有下降的趨勢,線性壓力測量范圍變小。因此,每過一段時間需要對β 規(guī)進(jìn)行校準(zhǔn),長時間貯存和使用后,β 規(guī)壓力測量性能明顯下降,無法正常使用。

參考文獻(xiàn):

  [1] 黃文平, 王朋. 熱陰極電離真空計的設(shè)計[J]. 電子工程師. 2004, 30(6):4- 5.
  [2] 王榮宗,孫天輝. 新型JK- β真空計的設(shè)計及特性[J]. 真空與低溫. 2000, 6(4):23- 26.
  [3] 沈國土, 胡桂萍, 寧端鵬. 放射性核衰變統(tǒng)計規(guī)律實(shí)驗的計算機(jī)模擬[J]. 大學(xué)物理實(shí)驗. 2006, 19 (1):83- 84.
  [4] 金革, 牛田野, 范揚(yáng)眉. 放射性核素壽命測量系統(tǒng)[J].核電子學(xué)與探測技術(shù). 2004,24(2):114.
  [5] 達(dá)道安, 邱家穩(wěn). 真空設(shè)計手冊[M]. 北京: 國防工業(yè)出版社. 2004:1142- 1144.
  [6] 李得天. 熱陰極與冷陰極電離規(guī)穩(wěn)定性的比較研究[J]. 真空與低溫. 2002,8(4):201- 202.